XRF压片法分析轻烧镁球中的SiO₂、MgO含量

廖子云

宝武武钢集团鄂钢公司信息化部(质检中心)

摘　要

文章研究了运用X荧光光谱仪新建曲线,分析粉末压片制样的轻烧镁球中SiO_2、MgO等成分的分析方法,包括样片的制备条件、X荧光光谱仪的参数条件及分析曲线的建立的设置等,并对检测结果进行了精密度、准确度分析,取得了满意的结果。采用X荧光光谱仪方法替代手工方法大大降低了分析的劳动强度,缩短了分析周期,该方法便捷、准确,能够满足快节奏的生产需求。

关键词

轻烧镁球；XRF压片法；X荧光光谱仪

分类号

O657.34；TF702

栏　目

试验研究

出　处

《冶金与材料》2020年第2期，第 9-10 页（共 2 页）

出版日期

2020-04-15

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