X射线荧光光谱法分析地质样品的应用
王莹
甘肃省有色金属地质勘查局兰州矿产勘查院
- 摘 要
- 在传统的地质样品分析方法中,需要投入大量的时间和人力,同时还会对环境造成不同程度的污染。因此,寻找一种快速、准确、环保的地质样品分析方法具有重要意义。X射线荧光光谱法是一种广泛应用于地质样品分析的非破坏性分析技术,目前已取得一定成效。地质样品中的元素含量和组成对于地质勘探、矿产资源评估、环境研究和岩石学等领域至关重要。基于此,文章就X射线荧光光谱法在地质样品中的应用进行探讨,旨在提高地质样品分析结果的可靠性。
- 关键词
- X射线荧光光谱法;地质样品
- 分类号
- O657.34;P623
- 栏 目
- 专业论坛
- 出 处
- 《冶金与材料》2023年第7期,第 183-185 页(共 3 页)
- 出版日期
- 2023-07-28
- 知网数据
- 下载 268 次,被引 1 次(截至 2026-09-29)
知网全文(电脑版)
知网公开页
“知网全文(电脑版)”需登录中国知网或在已订购知网的机构 IP 内访问;“知网公开页”无需登录即可查看摘要,并可按知网规定下载全文。