高硅铝中间合金硅含量的测定

孙晓钰，张文文，田小亭，刘芳，李宇菲

内蒙金属材料研究所

摘　要

文章研究了电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES），测定高硅铝中间合金（硅含量为10%～25%）中硅元素含量的方法。通过详细探究不同称样量、溶样方法以及分析谱线对测定硅含量的影响，以确定最佳的实验条件。除此之外，通过基体匹配法、优化运行参数消除了干扰。实验结果表明，最佳检测方案为：称取0.0500g试样，加入25%氢氧化钠溶液10mL、30%过氧化氢3mL、浓硝酸8mL进行样品溶解，选择251.612nm为分析谱线，雾化器流量为0.8 L/min,RF功率为1250W。以最佳检测方案对样品进行测定，测定结果的相对标准偏差小于1.50%，回收率控制在97%～105%。

关键词

高硅铝中间合金；ICP-AES；参数调控；硅元素

分类号

TG146.21；O657.31

栏　目

实用技术

出　处

《冶金与材料》2025年第12期，第 114-116 页（共 3 页）

出版日期

2025-12-25

知网数据

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