电感耦合等离子体发射光谱法测定硅锰合金中硼的含量

庞嘉文

宝钢湛江钢铁有限公司制造管理部检化验中心

摘　要: 电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）适用于硅锰合金中次、痕量硼元素的成分分析，文章通过对硅锰合金试样进行溶解处理，对比不同酸试剂对硼元素的消解效果，确定盐酸-硝酸-氢氟酸混合酸为最佳试样溶解体系。采用该体系完成试样前处理后，以ICP-OES测定硼元素在249.678nm特征谱线处的发射光强度，结合基体匹配法配制系列标准溶液绘制的校正曲线计算硼元素含量。验证结果表明，硼元素测定的精密度标准偏差为0.00082%，相对标准偏差（RSD）为3.81%，加标回收率介于95%～105%，统计学t检验显示，实测t值均小于t_(0.05,11)临界值，测定结果无显著性差异。该方法操作简便、分析快速，可满足硅锰合金中次、痕量硼元素的生产检测需求。
关键词: 硅锰合金；硼含量检测；电感耦合等离子体发射光谱
分类号: TF701.3；O657.31
栏　目: 实用技术
出　处: 《冶金与材料》2026年第2期，第 93-95 页（共 3 页）
出版日期: 2026-02-28
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