玻璃熔片-X射线荧光光谱法测定贫铁矿中铁等多元素

张国伟，尹利娟，李梅梅，宋晓青

内蒙古第十地质矿产勘查开发有限责任公司赤峰检测分公司

摘　要

文章参照《铁矿石全铁及其他多元素含量的测定波长色散X射线荧光光谱法（钴内标法）》GB/T6730.87—2023国家标准，采用玻璃熔片法制样，并加入钴元素作为铁的内标元素，采用X射线荧光光谱法测定贫铁矿中铁等多元素。以岩石标准样品、土壤标准样品、磷矿标准样品、钛铁矿标准样品、铁矿标准样品作为校准，通过经验系数法校正基体效应。研究结果显示，该方法的精密度、准确度满足DZ/T 0130—2016要求。

关键词

X射线荧光光谱法；玻璃熔片；内标法；贫铁矿石

分类号

O657.34；TF03

栏　目

实用技术

出　处

《冶金与材料》2026年第2期，第 114-116 页（共 3 页）

出版日期

2026-02-28

知网数据

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