ICP-OES光谱法测定粗银中的金含量分析

周爱玲

陕西瑞科新材料股份有限公司

摘　要

文章针对粗银样品中金含量低、基体复杂、干扰因素多等分析难点，构建了一种基于ICP-OES光谱法的金含量测定方法。通过优化分析谱线、仪器工作参数及样品前处理条件，系统考察基体效应和共存元素对测定结果的影响。结果表明，该方法具有检出限低、精密度和准确度良好等特点，在复杂高银基体条件下仍能实现稳定测定，可满足粗银中金含量分析的实际需求。

关键词

ICP-OES光谱法；粗银；金含量；测试分析

分类号

TG115.33

栏　目

实用技术

出　处

《冶金与材料》2026年第7期，第 105-107 页（共 3 页）

出版日期

2026-07-27

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